工业显微镜

近距离学习

利用扫描电子显微镜和人工智能工具优化生产

人们对质量和性能的要求不断提高，因此需要获得更多有关零件及其材料的详细信息。当光学显微镜的分析方法达到极限时，越来越多的公司由此选择使用更高分辨率的扫描电子显微镜。

使用扫描电子显微镜，
一个物体被一束精细的电子束扫描，它的分辨率比光学显微镜高得多。搭配使用X射线能谱仪（EDX），它甚至可以用来确定元素的化学组成。尽管这类设备以前只在科研领域被使用，但现在企业也都开始迎头赶上，在质量控制中利用扫描电子显微镜完成不同的任务，如电池的失效分析、金属合金、塑料、钢铁和复合材料的检测或新材料的研究和表征。蔡司能够提供全面的显微镜产品组合，可用于各种质量保证应用。

**最高分辨率及元素分析：**这种氧化锌枝晶的图像有助于检测储能系统电极的形态变化。利用蔡司场发射扫描电子显微镜Sigma拍摄。

ZEISS EVO产品系列
为高分辨率成像领域提供了功能强大的入门级型号。高性能、直观的操作和前瞻性的可升级性选项是该系列的特点。

ZEISS Sigma系列
具有更广泛的分析功能，能够描绘颗粒、表面和纳米结构。特别是微电子元件、医疗植入物和高分子材料样品，该系列能够以精确且可重复的方式进行研究。

ZEISS GeminiSEM系列
提供锐利亚纳米级分辨率的同时具有出色的景深。可用于部件或超薄层的高精度结构分析。全新的功能有助于对非导电材料进行精益求精的高质量EDX分析。

ZEISS Crossbeam系列
能够提供对样品内部的洞察，通过聚焦离子束和集成飞秒激光对局部材料进行刻蚀，暴露出来的截面使得SEM能够提供第三维度的高对比度成像。同样，该系统还能够进行自动TEM薄片制备工作流程。

工业显微镜综合解决方案
除硬件之外，ZEISS还提供关联显微镜以及通过深度学习进行图像分析等综合解决方案，在信息、工作流程和结果呈现方面均有明显的提升。

技术清洁度

人工智能作为效率助推器：ZEISS软件加快颗粒分类速度

现代制造工艺和质量要求加强了对从原材料到成品的技术清洁度要求。为提高资源效率并优化耗时的关键颗粒分类，ZEISS提供了技术清洁度分析模块。该软件模块已经用正确分类的颗粒进行了预训练，并将经典分析与基于机器学习的颗粒分类模型相结合。凭借更快且更具选择性的结果，使得工作人员更好的工作，而不需要常常返工。