CT 技术更上一层楼

客户对 METROTOM 1 有何期待？

Dominik Stahl 博士：一直以来，CT技术因其成本较高而让部分企业，尤其是中型企业望而却步。我们的目标是开发一种创新型产品，可帮助用户轻松驾驭 CT 技术。它的目标是为零件和材料检测提供一种易于使用的，灵活的测量系统。从这个角度来看，新系统完美填补了 ZEISS X 射线系列产品的空白。

Petra Schmidt 博士：这款独特的产品基于创新理念而生，具有撼动和改变市场的潜力。客户可以通过该系统更加轻松地使用相对比较复杂的 CT 技术。即使缺少相关经验也可以操作 CT 设备，并受益于 X 射线带来的技术优势。例如，使用该设备检测内部缺陷，测量内部结构和壁厚。

全新 METROTOM 1 还具有哪些优势？

Dominik Stahl 博士：METROTOM 1 搭载GOM Volume Inspect 软件，两者达成了软硬件的完美契合。这种完善、一致的解决方案确保从测量数据获取到评估的整个过程的易操作性。

Petra Schmidt 博士：除了易于使用外，METROTOM 1 的特点是尺寸紧凑和维护要求较低。这意味着，即使小型企业也可以将 CT 系统集成到他们的测量室中。维护要求低则有助于最大限度降低运营成本，这使METROTOM 1 的总体性价比颇具吸引力。

METROTOM 1 和 GOM Volume Inspect 软硬件结合

GOM Volume Inspect 最吸引人的地方是什么？

Dominik Stahl 博士：GOM Volume Inspect  的功能更加多样。在最新版本中，软件配备的有关体积的功能将显著增加。这将满足许多客户需求。在进行计量评估时，用户不再需要使用额外的软件来获取更详细的数据分析。这为客户节省了成本。

Petra Schmidt 博士：在计量评估方面，GOM Volume Inspect 是一款非常成熟的软件。它强大的操作功能深受客户青睐，而且用户界面友好，非常具有现代感。一些从蔡司购买了CT系统的客户已经开始使用 GOM Volume Inspect 软件进行评估。未来，我们将实现包括培训和服务在内的一站式产品供应。