新しいシンプルなコンピュータ断層撮影
次世代の CTテクノロジー
新製品 METROTOM 1とGOM Volume Inspect
ZEISSのX線CTポートフォリオにMETROTOM 1とGOM Volume Inspectが加わり、複雑と思われているX線CT(コンピュータ断層撮影)は大幅に簡素化されました。METROTOM 1のコンパクトなサイズとリーズナブルな価格と性能、GOM Volume Inspectソフトウェアの使いやすさ(データ取得から検査まで一連のワークフローを制御)により、工業用X線CTの世界の垣根を取り払うことに成功しました。
お客様はMETROTOM 1に何を期待できますか?
Dominik Stahl 博士: 今までのCT技術は必ずしも求めやすい価格ではありませんでした。私たちの目標はCT技術の利用を簡単に始められ、パワフルなソフトウェアを含む革新的製品を開発することでした。それには部品や材質に柔軟で、使いやすい測定システムが必要でした。この新製品はZEISS X線シリーズを完全に補完するシステムとなっています。
Petra Schmid 博士: 革新的アイデアにより、X線CT市場を大きく揺るがす可能性を秘めたユニークな製品が誕生しました。お客様はCT技術の利用を簡単に始めることができます。これまで複雑だったCT技術において、はじめて利用するお客様でも簡単に操作し、X線CT技術のメリットを得ることができます。例えば内部欠陥の検出や内部構造の寸法、肉厚を測定することができます。
METROTOM 1は他にどのようなメリットを提供できますか?
Dominik Stahl 博士: 完全に融和されたGOM Volume Inspectと組み合わせたMETROTOM 1により、ユーザーは最大限の恩恵を受けることができます。測定データの取得から評価までの一貫したソリューションを確立し、簡単操作を実現しています。
Petra Schmid 博士: METROTOM 1は使いやすさに加え、コンパクトなサイズと簡単メンテナンスも特徴です。運用コストを可能な限り低く抑えることができ、総合的な性能と価格に納得がいくものとなっています。
ZEISS METROTOM 1とGOM Volume InspectでCTテクノロジーへ参入
GOM Volume Inspectの魅力は何ですか?
Dominik Stahl 博士: 多機能であることです。最新バージョンでは、お客様の要求に応えるためのボリュームデータ処理機能が大幅に追加されています。詳細なデータ分析や計測評価のための追加ソフトウェアは不要となり、お客様のコストを削減することができます。
Petra Schmid 博士: GOM Volume Inspectは計測評価に定評のあるソフトウェアです。パワフルな機能はお客様から高い評価を得ており、最新のユーザーインターフェースを備えています。ZEISSのX線CTを既にお持ちのお客様の中にはGOMVolume Inspectを評価に使用されている方もいらっしゃいます。将来的にはトレーニングやサービスも含めて、すべてを一本化して提供できるようになるでしょう。
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