ZEISS光学系列

从不同 的视角看 看世界

灵活、精确、快速: ZEISS O-DETECT 和 ZEISS O-INSPECT

非接触式质量保证至关重要,特别是处理小型有棱角部件或热塑性部件时。蔡司为此推出了新一代光学测量机:ZEISS光学系列。不同型号的产品与灵活的照明灯、高分辨率的摄像头和复杂先进的软件一起使用,可以瞬间提供精确的测量结果。可根据客户的需求量身设计,既有专用的光学测量系统,也有可在同一台测量机进行接触式或光学测量的多传感器方案。

ZEISS O-DETECT 实现更简易的光学测量

使用ZEISS O-DETECT,使进入光学测量领域变得前所未有的简单:该测量机具有高分辨率光学系统,配有数字变焦和可调节型环形灯,从而确保提供精确的测量结果。用户可以通过全景摄像头进行导航来更快地设置部件。而ZEISS CALYPSO 软件直观的界面保证了操作的便利性。成像软件可以确定部件的形状,并计算几何偏差。

ZEISS O-DETECT针对不同测量任务设有多种照明选项:用于灵活照明工件的蓝白LED环形光,以及用于发亮工件和难以触及边缘的备选漫射照明。最新推出的型号可以测量的部件尺寸达500 mm×400 mm×300 mm。

蔡司光学系列设备:ZEISS O-DETECT(左)和ZEISS O-INSPECT(右)

蔡司光学系列设备:ZEISS O-DETECT(左)和ZEISS O-INSPECT(右)

光学解决方案恰到好处:ZEISS O-INSPECT 

ZEISS O-INSPECT结合了两个测量领域的优点。多传感器测量机结合了两种技术,可以以光学方式捕获工件,或者接触式捕获工件,而无需再次校准。仅需使用一台测量机,既节省时间,又节约成本, 尤其是处理复杂部件时。同时降低了由不同测量技术引起的不准确结果的风险。

由于具有高分辨率和多传感器技术,ZEISS O-INSPECT可以提供精确的3D测量结果。多传感器技术包括可在扫描或单点测量之间切换的ZEISS VAST XXT接触式探头、带有变焦镜头的ZEISS Discovery.V12相机传感器和用于捕捉敏感、反射或低对比度表面的色阶共聚焦白光测量传感器ZEISS DotScan。

可用于不同尺寸部件的ZEISS O-INSPECT

可用于不同尺寸部件的ZEISS O-INSPECT