Vernetzte Mikroskopie
Winzige Welten, riesige Möglichkeiten
ZEISS ZEN core hilft, das Potenzial aller Mikroskope voll auszuschöpfen.
Industrielle Mikroskopie erlaubt es, kritische Unreinheiten oder Fehler auf Objekten und Oberflächen aufzuspüren. Mit der Software Suite ZEISS ZEN core werden diese für das menschliche Auge unsichtbaren Details sichtbar. An mehreren Standorten gleichzeitig an Echtzeitdaten arbeiten, Analyse- und Reportingprozesse auf Knopfdruck erhalten und sich an einer nutzerfreundlichen Bedienbarkeit freuen – so wird das Potenzial von Hardware und Software voll ausgeschöpft.
Alles vor Augen haben: eine Benutzeroberfläche für alle Mikroskopieergebnisse
ZEISS ZEN core bietet den Vorteil, das umfangreichste Mikroskopieportfolio der Welt über eine Benutzeroberfläche zu verwalten. Das hilft den Nutzern, Daten besser austauschen und korrelieren zu können. Dabei fließen Daten aus unterschiedlichen Geräten in ein gemeinsames Analyseergebnis ein. Beispiel Qualitätssicherung: Ob zur Fehleranalyse bei elektronischen Bauteilen oder in der Oberflächenprüfung von lackierten Karosserieteilen – ein Bauteil wird zunächst mit einem Lichtmikroskop auf sichtbare Defekte untersucht. Ist der Defekt gefunden, beginnt die Ursachenforschung. Hier kann das Elektronenmikroskop mit einer Materialanalyse oder hochauflösender Bildgebung unterstützen.
Obwohl die Probe unter den verschiedenen Mikroskopen vollkommen unterschiedlich aussieht, kann ZEISS ZEN core einen markierten Bereich im Analyseprozess wiederfinden. Daten und Bilder werden verknüpft, was das aufwendige Suchen der Prüfstelle über verschiedene Mikroskoptypen hinweg überflüssig macht. Die Bilder werden automatisch überlagert oder kombiniert und so verständlich gemacht. Das erleichtert die kollaborative und standortübergreifende Arbeit mit den Daten.
Die Mikroskopie bietet ein breites Spektrum an industriellen Anwendungen:
BSE-Bild von Pollen in einer Textilstruktur
Prüfung von Komponenten auf einer Leiterplatte
BiCaCo-Keramik aufgenommen mit BSE-Detektor
REM-Aufnahme von Stellitpartikeln
„Auf Wunsch unserer Kunden können Workflows mit ZEISS ZEN core sogar vollständig automatisiert werden.“
Automatisierte Mikroskopie-Workflows auf Knopfdruck
Vernetzung und Produktivität erreichen ein neues Level, wenn die Arbeitsabläufe durch den Einsatz künstlicher Intelligenz (KI) vollständig automatisiert werden. Die automatische Bildaufnahme durch ein KI-gestütztes System zur Markierung interessanter Bereiche ist bereits Standard. Innerhalb dieser Bereiche kann die KI Bildsegmentierungen vornehmen – eine bahnbrechende Funktion, die bisher nur von Menschen durchgeführt und nun automatisiert werden konnte – einschließlich der Analyse und Berichterstattung.
ZEN Connect trifft EVO
Korrelative Workflows mit ZEISS ZEN Connect bis hin zum Elektronenmikroskop
Betreiber von ZEISS EVO Elektronenmikroskopen können die nahtlos korrelative Mikroskopie in ihre Arbeitsabläufe integrieren und per Mausklick automatisierte Analysen durchführen. Dank einheitlicher Workflows innerhalb der Software können Anwender die Leistung ihrer Rasterelektronenmikroskope voll ausschöpfen – intuitiv und mit immensen Vorteilen für Konsistenz und Zeitersparnis.
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